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產品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | Enlitech | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 能源 | EL-EQE?un-repeatability | <1% |
EL-EQE?un-reproducibility | <1.5% | 價格區(qū)間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可以檢測極低的 EL-EQE 信號(低至 10-5%,即 7 個數量級),還可以計算熱力學 Voc、輻射復合 Voc 和非輻射復合 Voc(通過其軟件SQ-VLA)。此外,也可以在一個柱狀圖中分析不同類型設備之間的ΔE1、ΔE2和ΔE3損耗。重要的是,分析軟件可以幫助用戶將計算出的Voc-loss與設備IV曲線的真實Voc-loss進行匹配,從而促進研究進展和期刊發(fā)表。
*它可以測量:absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。
*該軟件可以顯示的圖表包括:EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲線、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方圖。
*該系統(tǒng)可以計算和分析熱力學Voc、輻射復合Voc和非輻射復合Voc。
*波長檢測范圍:300~1100納米;并可擴展到1700納米(選項)。
* NIST-traceable absolute radiometric calibration(瓦特,從300~1100納米)。
*EL-EQE檢測范圍:10-5%到極大值(動態(tài)范圍7階)。
*EL-EQE un-repeatability<1%。
*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。
*EL低光檢測SN比:>50:1 @5×10-5%(REPS Pro)。
*Glove Box 整合工具包。
*客制的測試夾具。
REPS系統(tǒng)另有進階類型(REPS Pro),其規(guī)格比較如下:
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可用于:
– 改善OPV的Voc-loss
– 改善鈣鈦礦 Voc-loss
– 電荷傳輸狀態(tài)識別
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